전기장을 전자 소스에 가해 전자를 방출시킨 후 전자를 가속시켜 시료 표면에 조사하고 2차전자, 후방산란전자 및 x선 등의 신호를 통해 시료 표면의 구조 및 형태를 관찰할 수 있는 주사전자현미경입니다.
해당 요금은 교외요금 기준으로 교내의뢰시 20% 감면 표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
